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ElektroPhysik測厚儀校準程序-MINITEST 3100

簡要描述:ElektroPhysik測厚儀校準程序-MINITEST 3100
校準有五種不同的方法:
1.標準校準:推薦用于均勻表面上的測量,如果物體與ElektroPhysik零板具有相同的材料,尺寸和沖擊度。
2.單點校準(無需使用振動箔調零):如果允許誤差p為±(讀數的3%*加上探頭的常數誤差),則推薦使用。 (恒定探針的實例:F.1.6:1μm)。
3.兩點校準(使用校準箔進行校準和校準):如果預

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  • 廠商性質:經銷商
  • 更新時間:2024-10-19
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價格區間1萬-2萬價格區間1萬-2萬

ElektroPhysik測厚儀校準程序-MINITEST 3100

 

(一)校準有五種不同的方法:
1.標準校準:推薦用于均勻表面上的測量,如果物體與ElektroPhysik零板具有相同的材料,尺寸和沖擊度。
2.單點校準(無需使用振動箔調零):如果允許誤差p為±(讀數的3%*加上探頭的常數誤差),則推薦使用。 (恒定探針的實例:F.1.6:1μm)。
3.兩點校準(使用校準箔進行校準和校準):如果預期的讀數將接近校準值,則推薦探針的允許誤差為±(1%... 3%讀數*(根據探頭)加恒定探頭誤差)*參照實驗室條件下提供的校準標準。
4.兩點校準(使用一組兩個校準箔):

  •      a)推薦用于粗糙表面上的測量。
  •      b)如果要預期的厚度在兩個校準箔的厚度之間,建議在光滑表面上進行測量。

5.通過涂層(CTC)進行校準:使用校準箔校準。如果測試樣品被涂覆并且沒有未涂覆的樣品可用于比較,則推薦使用。該方法適用于以下探針:F05,F1.6,F3和FN1.6(僅含鐵部件),F1.6 / 90,F2 / 90,F10,F20和F50。

(二)存儲校準值
如果儀表為特定目的進行校準,則校準值將存儲在存儲器中,直到更改為止(參見4.1.8校準值的穩定性)。如果要對某個探頭進行校準,只需進行重新校準即可。 這將自動刪除以前的校準值,并保存新的校準值以便立即使用。

校準程序應從頭開始重新啟動,如果

  • 讀取不正確
  • 輸入了不正確的命令
  • 儀表已關閉

(三)校準示例
校準是測量的zui重要的要求。 校準樣品與產品樣品匹配越緊密,校準越準確,因此讀數越高。 例如,如果要在鋼瓶上測量產品,則質量ST37(軟鋼),ø6 mm,未涂覆樣品的校準必須在相同質量的鋼制圓筒上進行,直徑相同。
校準樣品必須以下列方式對應產品樣品:

  • 曲率半徑
  • 基材特性
  • 基板厚度
  • 測量面積大小
  • 進行校準的點

校準樣品必須始終與產品本身的測量點相同,特別是在小零件的拐角和邊緣的情況下。 精準臺在這里將是無價的。 有關詳細信息,請參閱技術數據。

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